Laboratórium štruktúrnych analýz materiálov

Koordinátor: Ing. K. Iždinský, CSc.

Ing. P. Švec, DrSc.
Ing. P. Švec, PhD.

Mladí vedeckí pracovníci do 35 rokov

Ing. I. Janotová, PhD.
RNDr. I. Maťko, CSc.
Mgr. J. Zigo, PhD.

Zameranie

Vývoj postupov pre pozorovanie a analýzu rôznych materiálov
Mikroštrukturálna charakterizácia materiálov

Zoznam prístrojov

FEI Titan Themis

FEI Titan Themis

Realizácia experimentov:

Mikroskop je schopný pracovať v nasledovných módoch zberu dát: TEM tomografia, STEM tomografia, Low Dose a Lorentz zobrazovanie, holografia, elektrónová difrakcia

Technické parametre:

Titan Themis 300 (vyrobca FEI )
Korektor sferickej aberacie kondenzoroveho systemu 3. generacie – DCOR (vyrobca CEOS), korekcia aberacii az do 4. radu, optimalizovany pre 5. rad
Urýchľovacie napätia: 300, 200 a 80 kV
Vysokožiarivý a vysokostabilný zdroj elektrónov – X-FEG
4 detektory STEM signálu, jeden je 4 – kvadrantný využiteľný na mapovanie rozloženia elektrických a magnetických poli
CMOS kamera – CETA 16M, 4,096 × 4,096, 14um pixel
Rozlíšenie bodové (TEM) ≤ 200pm @ 300kV
Informačný limit (TEM) ≤ 100pm @ 300kV
Garantované STEM rozlíšenie 80pm @ 300kV
STEM rozlíšenie 80pm @ 200kV